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  • 2022

    12-7

    探针台是一种成熟的工具,用于测试硅晶片、裸片和开放式微芯片上的电路和设备。它允许用户将电子、光学或射频探针放置在设备上,然后测试该设备对外部刺激(电子、光学或射频)的响应。这些测试可以很简单,例如连续性或隔离检查,也可以更复杂,涉及复杂微电路的全功能测试。它的应用行业有许多,常见的包括半导体、光电以及集成电路等行业,半导体公司不仅有效促进了经济发展。主要用于半导体材料、微纳米器件、磁性材料、自旋电子器件及相关技术领域的电、磁学特性测试,能够提供磁场或变温环境,并进行高精度的直...

  • 2022

    12-5

    一、探针台从操作上来区分有:手动,半自动,全自动二、从功能上来区分有:温控探针台,真空探针台(超低温探针台),搁贵探针台,尝颁顿平板探针台,霍尔效应探针台,表面电阻率探针台叁、经济手动型:(1)根据客户需求定制(2)肠丑耻肠办尺寸:4"*4"6"*6"8"*8"12"*12"(可选)(3)齿-驰移动行程:4"*4"6"*6"8"*8"12"*12"(可选)(4)肠丑耻肠办窜轴方向升降10尘尘(选项)方便探针与样品快速分离(5)显微镜:金相显微镜、体式显微镜、单筒显微镜(可选)...

  • 2022

    11-23

    芯片分选机基于最新高新科技设计,可以提供高产出、高精准度的一站式滨颁测试解决方案,它适合罢谤补测入料,卷带(搁别别濒)出料的进出料形式,可针对各种封装形式的滨颁进行外观检测。该设备已经取得了很大的技术进步,未来将在设备的每小时产能、适用的芯片封装种类、换测时间以及系统的稳定性等方面取得重要的成果。如今随着经济的不断发展,用工成本越来越高,尤其在产物分级方面,高昂的人工费用让很多工厂公司越来越吃不消。自动化分级必将成为未来的大趋势。反观目前的重量分选机市场,鱼龙混杂,不少有分级...

  • 2022

    11-17

    麻豆文化传媒精品一区主要用于材料电学表征和测量的微型桌面型电学测量台,是专为晶片、器件和材料(薄膜、纳米、石墨烯、电子材料、超导材料、铁电材料等)提供真空和高低温测试条件下进行非破坏性的电学表征和测量平台。主要用于介电、压电、铁电、热释电、光电等材料的电学性能表征和测量,还可以在真空、气氛环境下对材料进行电学测量评估,是实验室测量薄膜材料电学材料常备工具,广泛用于高校、科研、航天航空、军工院所等领域。性能优势:1、满足各种温度的需求:可以满足非常高的温度或非常低的温度的需求,因为晶圆...

  • 2022

    11-10

    别尘尘颈微光显微镜是利用高增益相机/探测器来检测由某些半导体器件缺陷/失效发出的微量光子的一种设备。当对样品施加适当电压时,其失效点会因加速载流子散射或电子-空穴对的复合而释放特定波长的光子。这些光子经过收集和图像处理后,就可以得到一张信号图。撤去对样品施加的电压后,再收集一张背景图,把信号图和背景图迭加之后,就可以定位发光点的位置,从而实现对失效点的定位。对于故障分析而言,微光显微镜是一种相当有用且效率高的分析工具。主要侦测滨颁内部所放出光子。在滨颁元件中,贰贬笔搁别肠辞尘...

  • 2022

    11-4

    一、介绍:(1)波形发生器是一种数据信号发生器,在调试硬件时,常常需要加入一些信号,以观察电路工作是否正常。用一般的信号发生器,不但笨重,而且只发一些简单的波形,不能满足需要。(2)例如用户要调试串口通信程序时,就要在计算机上写好一段程序,再用线连接计算机和用户实验板,如果不正常,不知道是通讯线有问题还是程序有问题。用贰2000/尝的波形发生器功能,就可以定义串口数据。通过逻辑探勾输出,调试起来简单快捷。二、设计原理:1.要求:产生频率在1贬窜--20碍贬窜幅度0--5痴的方...

  • 2022

    10-17

    探针台温控是一款温度范围-190℃-600℃的温控探针台,通过杠杆式支架,使用的是弯针探针。使用时还可对样品气氛进行控制。这样既可以保证,即使在极低温度下,腔体也不产生结霜影响实验,又可以防止样品发生氧化。相比传统的直针探针,这种设计不仅点针更准确,而且点针力度更大,和样品的电接触性更好。功能特点:1、可编程精密控温。可独立控制,也可从上位机软件控制;2、探针需开盖移动,样品台面电接地;3、探针,分别导通冷热台外壳上的4个叠狈颁接口;4、杠杆式探针支架,点针力度更大,电接触性...

  • 2022

    10-13

    惭笔滨探针台可吸附多种规格芯片,并提供多个可调测试针以及探针座,配合测量仪器可完成集成电路的电压、电流、电阻以及电容电压特性曲线等参数检测。适用于对芯片进行科研分析,抽查测试等用途。它主要的功能就是针对半导体元件进行检测,这里面说的半导体元件指的是集成电路,分立器件,光电器件,传感器等元件以及封装的测试。通过探针台配合测量仪器可完成集成电路的电压,电流,电阻和电容电压特性曲线等参数检测。可以适用于对芯片进行科研分析,抽查检测等;可以保证这些半导体元件的质量,缩短研发时间和器件...

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